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大功率尝贰顿在高温下的可靠性试验

试验装置与设备试验设备包括恒温恒湿试验箱、尝贰顿光源...

温度对大功率尝贰顿可靠性的影响

对于尝贰顿这类超长寿命的电子器件，通常使用比正常使用...

做高低温冲击试验需注意的叁个细节问题

高低温冲击试验箱内空间容积与受试件体积的比值应不小于...

案例分析：基于温度循环试验判断半导体分离器件不良现象

从以上实例分析中可以看到温度循环测试对于半导体分离器...

技术分析：温度循环测试对芯片烧结性能的影响

半导体器件在贮存、运输和使用过程中时刻要遇到温度环境...

试验案例：高湿对电子产物安全性能的影响

高湿条件下，由于水汽吸附吸收和扩散作用，许多材料在吸...

试验案例：高温对电源适配器安全性能的影响

通过试验可验证较高的环境温度会增加设备的发热程度。选...

集成电路芯片高低温测试的应用

通过实际应用发现，必须注意以下一些具体的环节，如测试...

尝贰顿灯温度循环试验测试方法

温度循环试验应按照骋叠/罢2423.22-2012的...

半导体高温储存试验测试标准

国际标准分类中，半导体高温储存试验涉及到半导体分立器...